Разделы сайта

• Главная
• Исследования и анализ современных технологий
• IP-телефония
• Антенно-фидерные устройства
• Виртуальное построение рабочей локальной сети
• Влияние электромагнитного поля на подземную проволочную антенну
• Микрополосковая антенная решетка
• Система экологического мониторинга вредных газовых выбросов
• Организация процесса производства цифрового телевиденья

Экспериментальные результаты

Рис 19 - Образец на основе PES с покрытием толщиной 8 нм с изотропным ориентантом, профиль поверхности после деформации растяжения.

Рис 20 - Образец на основе PES с покрытием толщиной 8 нм с анизотропным ориентантом после деформации растяжения.

Результаты исследования удельного поверхностного сопротивления нанотолщинных слоистых композиционных покрытий деформированных и недеформированных

Рис 21 - Удельное поверхностное сопротивление при различных радиусах кривизны деформации растяжения и сжатия.

При деформации растяжения предельный радиус кривизны получился равным 8.6 мм, а при деформации сжатия 7.4 мм, что на 14% меньше.

Рис 22 - Удельное поверхностное сопротивление при различных толщинах ориентанта и радиусах кривизны деформации растяжения.

Таблица 4. Предельные радиусы кривизны образцов на основе PES и PETF с изотропным и анизотропным ориентантом после деформации растяжения.

Существует некоторая тенденция к уменьшению радиуса кривизны вместе с уменьшением толщины пленки для образцов на основе PES. Однако удельное поверхностное сопротивление ощутимо возрастает на величину от 70 до 130%. Для образцов на основе PETF наоборот более толстые покрытия дают лучший предельный радиус кривизны. Удельное поверхностное сопротивление возрастает на величину от 50 до 100%.

Пока нет экспериментальных результатов образцов на основе PETF с анизотропным ориентантом, поэтому сравним образцы на PETF с образцами на PES с изотропным ориентантом.

Таблица 5. Предельные радиусы кривизны образцов на основе PES и PETF с изотропным ориентантом после деформации растяжения.

Самое читаемое:

Микросхема радиомодема норвежской фирмы CHIPCON
Быстро развивающийся технический прогресс предъявляет с каждым днем все большие требования к качеству производственных процессов. Одной из основных задач в деле достижения высочайших показателей качества производства, является четкий и быстрый контроль, а затем автоматизированная обработка данных о протекании производственного проц ...