Разделы сайта

Исследование: структуры электромагнитного поля основной волны; зависимости режима работы волновода от вида его нагрузки; особенностей распространения электромагнитных волн в полом прямоугольном мета

Учет кривизны Земли при пользовании интерференционными формулами сводится к нахождению приведенных высот h1’ и h2’ , поэтому определим произведение приведенных высот h1`h2`. Сделать это можно при помощи графика (из методического пособия), который позволяет определить поправочный коэффициент m в формуле:

h1¢ h2¢ = mh1h2 , м2.

Аналогичным образом по графику вычисляют поправочный множитель n к формуле для определения угла скольжения:

.

С учетом корректировки высот:

Модуль коэффициента отражения найдем по формуле:

,

где - абсолютная величина комплексной диэлектрической проницаемости почвы.

Найдем по вышеприведенным формулам напряженность электрического поля волны в полученных точках и . Когда поле максимально (), косинус равен единице , а напряженность поля

.

Когда поле минимально (), косинус равен минус единице , тогда

.

Сведем полученные значения в таблицу:

r, км h1¢·h2¢, м2·10-3 ,

мВм

 

max

24,0

7,92

0.012

4

0.986

113.8

min

12,0

8.73

0.027

0.97

3.48

max

8,0

8.91

0.041

0.954

335.99

min

6,0

8.91

0.054

0.939

13.96

max

4,8

8.91

0.068

0.924

551.29

min

4,0

8.91

0.082

0.91

30.89

max

3,4

8.91

0.096

0.895

766.43

min

3,0

8.91

0.109

0.882

54.02

max

2,7

8.91

0.121

0.87

952.31

min

2,4

8.91

0.136

0.855

83.02

max

2,2

8.91

0.148

0.843

1152.00

min

2,0

8.91

0.163

0.829

117.55

max

1,8

8.91

0.181

0.812

1384.00

min

1,7

8.91

0.192

0.802

159.79

max

1,6

8.91

0.204

0.792

1540.00

min

1,5

8.91

0.218

0.78

201.96

Перейти на страницу: 1 2 3

Самое читаемое:

Исследование наноструктурированной поверхности на АСМ Solver HV
Целью курсовой работы является изучение принципов сканирующей зондовой микроскопии, получение навыков работы на АСМ SOLVERHV. Преимущество АСМ SOLVER HV состоит в том, что система позволяет проводить параллельно с изучением топографии поверхности исследуемого образца физические, магнитные, электрические и электростатические хара ...

www.techstages.ru : Все права защищены! 2026