Тогда суммарная интенсивность отказов элементов платы
λобщ = 58,01*10-6,
Среднее время наработки на отказ элементов платы:
Т = 17238 ч.
Тогда по Р(t)=е-t/T рассчитываем вероятность безотказной работы разработанного модуля. Надежность системы:
Таблица 9.4 - Надежность системы
|
Т/час |
100 |
1000 |
2000 |
4000 |
10000 |
20000 |
30000 |
40000 |
|
Рбезот. сиc. |
0.994 |
0.944 |
0.89 |
0.793 |
0.56 |
0.313 |
0.175 |
0.098 |
Самое читаемое:
Исследование спектральных свойств кристалла TmCaF2
В настоящее время существует интерес в поиске и исследовании новых
твердотельных лазеров излучающих в области 2 мкм для различных применений.
Большой интерес к данному диапазону обусловлен целым рядом обстоятельств.
Прежде всего, двухмикронное излучение хорошо согласованно с пиком поглощения
воды [1] и находится в безопасном для гла ...