, (3.13)
где N0 - концентрация ионов Tm3+. Для кристалла Tm: CaF2 с допированием 3% ат. см-3, с допированием 4,8% ат.
см-3 Эффективное сечение усиления находилось по формуле (3.9). Заметим, что данная методика позволила экспериментально учесть влияние распределения населённости по штарковским подуровням, в то время как, нахождение сечения излучения на данной длине
волны требует точного знания больцмановского распределения населённости в пределах рассматриваемого уровня. Полученные в результате расчетов данные представлены на рисунках 3.4 и 3,5 для кристаллов 3% и 4,8% соответственно.
Рис. 3.4. Зависимости и
кристалла Tm: CaF2 от длины волны для 3%. Tm3+
Рис. 3.5. Зависимости и
кристалла Tm: CaF2 от длины волны для 3%. Tm3+
Для лазерных сред, работающих по квазитрехуровневой схеме, важно соотношение и
. Пренебрежем процессами ап-конверсии, вследствие их малой вероятности, и предположим, что все ионы Tm3+ распределены по уровням 1 и 2. Тогда уравнение (3.10) можно представить в виде:
, (3.14)
где Р - параметр инверсной населённости, равный отношению населённости ионов Tm3+ находящихся на верхнем уровне лазерного перехода N2 к общему числу активных центров N0. Результаты расчетов представлены на графиках (рис. 3.6, рис. 3.7).
Рис. 3.6. Зависимость усиления для различных значений коэффициента инверсии P кристалла Tm: CaF2 допированного 3% Tm3+.от длины волны
Рис. 3.7. Зависимость усиления для различных значений коэффициента инверсии P кристалла Tm: CaF2 допированного 3% Tm3+.от длины волны
Самое читаемое:
Операционный микроэлектронный усилитель
Современная радиоэлектронная аппаратура (РЭА) характеризуется
тремя основными чертами:
резким возрастанием количества компонентов и в связи с этим
значительным уплотнением аппаратуры;
мобильностью, так как РЭА устанавливается на объектах, движущихся
с космическими скоростями;
количественным ростом выпуска аппаратуры и, след ...