Разделы сайта

Экспериментальное исследование режимов работы асм solverhv для исследования наноструктурированной поверхности

С помощью АСМ SOLVERHV было проведено исследование калибровочной решетки TGZ2. Ниже представлены изображения, полученные при сканировании образца в различных видах в контактном режиме.

Рис. 11

Рис. 12 - Профиль калибровочной решетки TGZ2

Рис. 13 - 3D изображениеTGZ2

Рис. 14 - 2D изображениеTGZ2

Рис. 15 - Профиль калибровочной решетки TGZ2

Далее получены изображения той же калибровочной решетки TGZ2 в контактном режиме при более высокой скорости 2.08 Hz FB Gain 0.100.

Рис. 16 - Профиль калибровочной решетки TGZ2(2.08 Hz FB Gain 0.100)

Рис. 17 - 3D изображение калибровочной решетки TGZ2(2.08 Hz FB Gain 0.100)

Рис. 18 - 2D изображение калибровочной решетки TGZ2(2.08 Hz FB Gain 0.100)

Рис. 19 - Профиль калибровочной решетки TGZ2(2.08 Hz FB Gain 0.100)

При сравнении исследований, было выявлено, что режим работы, при более низкой скорости сканирования давал более чёткие изображения решетки, так как зонд успевал охватить все неровности и шероховатости наноструктурной поверхности.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

В ходе курсовой работы были изучены принципы сканирующей зондовой микроскопии, получены навыки работы на АСМ SOLVER HV.

Задачами курсовой работы являлись: экспериментальное определение режимов работы АСМ SOLVER HV для исследования наноструктурированной поверхности, также выявлен режим работы, дающий наилучший результат исследования.

Самое читаемое:

Характеристики нанотолщинных композиционных слоистых покрытий на гибких подложках после деформации
Жидкокристаллические индикаторы широко используют в оптических устройствах отображения информации, в частности, как составную часть жидкокристаллических дисплеев. В зависимости от материала подложек различают жесткие (стеклянные подложки) и гибкие (пластиковые подложки) индикаторы. Преимущества гибких индикаторов в компактности, пр ...