С помощью АСМ SOLVERHV было проведено исследование калибровочной решетки TGZ2. Ниже представлены изображения, полученные при сканировании образца в различных видах в контактном режиме.
Рис. 11
Рис. 12 - Профиль калибровочной решетки TGZ2
Рис. 13 - 3D изображениеTGZ2
Рис. 14 - 2D изображениеTGZ2
Рис. 15 - Профиль калибровочной решетки TGZ2
Далее получены изображения той же калибровочной решетки TGZ2 в контактном режиме при более высокой скорости 2.08 Hz FB Gain 0.100.
Рис. 16 - Профиль калибровочной решетки TGZ2(2.08 Hz FB Gain 0.100)
Рис. 17 - 3D изображение калибровочной решетки TGZ2(2.08 Hz FB Gain 0.100)
Рис. 18 - 2D изображение калибровочной решетки TGZ2(2.08 Hz FB Gain 0.100)
Рис. 19 - Профиль калибровочной решетки TGZ2(2.08 Hz FB Gain 0.100)
При сравнении исследований, было выявлено, что режим работы, при более низкой скорости сканирования давал более чёткие изображения решетки, так как зонд успевал охватить все неровности и шероховатости наноструктурной поверхности.
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
В ходе курсовой работы были изучены принципы сканирующей зондовой микроскопии, получены навыки работы на АСМ SOLVER HV.
Задачами курсовой работы являлись: экспериментальное определение режимов работы АСМ SOLVER HV для исследования наноструктурированной поверхности, также выявлен режим работы, дающий наилучший результат исследования.
Самое читаемое:
Дискретный регулятор мощности секционированной солнечной батареи
Система электропитания (СЭП) является одной из важнейших частей в составе
оборудования спутника, обеспечивая энергией все его служебные системы и
полезную нагрузку КА. Важнейшими характеристиками СЭП являются качество
выходного напряжения, масса, габариты, КПД, надежность и стоимость.
Одним из способов достижения тр ...